実験装置一覧
宮内・山口研究室で所有している装置の一覧です。
| 物性評価 | 合成・反応 | その他 |
物性評価
走査型プローブ顕微鏡(SPM) SHIMADZU, SPM-9700
自動比表面積・細孔分布測定装置 MICROMERITICS, TriStar II
卓上型電子スピン共鳴(ESR)装置 BRUKER, EMXnano
フーリエ変換赤外分光光度計 JASCO, FT/IR-6100
大気中光量子収量分光装置 RIKEN KEIKI, AC-2
高感度差動型示差熱天秤 NETZSCH, STA 2500 Reguls
紫外可視分光光度計 JASCO, V-660
紫外可視近赤外分光光度計 JASCO, V-670 V-770
卓上蛍光X線分析(XRF)装置 Malvern Panalytical, Epsilon1
小型蛍光寿命装置 Hamamatsu Photonics, Quantaurus-Tau C11367-02
分光放射照度計 USHIO, USR-45
接触角計 Kyowa Interface Science, DropMaster500
ゼータ電位・粒径測定システム OTSUKA ELECTRONICS, ELSZ-2PPAS
分光感度測定装置 BUNKOUKEIKI, SM-250DAM
分光蛍光光度計 Hitachi High-Tech Science, F-7000
小型ラマン分光光度計 JASCO, PR-1w
放射温度計 JAPANSENSOR, TMHX-CSE0500-0100E001
卓上走査電子顕微鏡(SEM) JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
デスクトップX線回折(XRD)装置 Rigaku, MiniFlex600-C
3D測定レーザー顕微鏡 OLYMPUS, LEXT OLS4000
合成・反応
高速液体クロマトグラフ SHIMADZU, NexeraTM etc.
高感度ガスクロマトグラフ SHIMADZU, Tracera
ガスクロマトグラフ INFICON, 3000 Micro GC
マグネトロンスパッタ成膜装置 VACUUM DEVIE, MSP-30T
メタルコーティング装置 VACUUM DEVIE, MSP-mini
高温精密電気炉 SK MEDICAL ELECTRONICS, HF-1600
卓上型高温管状真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-1650
超精密小型真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-50
小型雰囲気炉 Heat tec, HWS300-40
オートクレーブ
スピンコーター MIKASA, MS-A100
遊星回転ミル Ito Seisakusho, LA-PO.4
電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-7000 HZ-5000
超音波ホモジナイザー Branson, SFX 250
小型恒温震とう培養機 TAITECH, BR-23FH
ガスクロマトグラフ質量分析計 SHIMADZU, GCMS-QP2010 Ultra
高性能汎用ガスクロマトグラフ SHIMADZU, GC-2014
差動排気系キット付き四重極型質量分析計 ULVAC, Qulee with YTP BGM-102
精密小型調湿発生器 Micro Equipment, me-30DPRT-MFC-FH
高性能マッフル炉 AS ONE, HPM-1N HPM-1
マルチ電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-Pro
その他
グローブボックス UNICO, UL-1000A-ISMS etc.
キセノン光源 ASAHI SPECTRA, MAX-302 LAX-103
キセノンランプ光源装置 KenkoTokina, XEF-501S
光触媒評価用波長可変単色光源 BUNKOUKEIKI, BIX-300
バンドパスフィルタ カットフィルタ
ソフトウェア COMSOL Multiphysics VASP
冷却トラップ装置 EYELA, UT-4000L UT-2000
ソーラーシミュレータ Peccell Technologies, PEC-L11
ソーラーシミュレータ ASAHI SPECTRA, HAL-320
ファイバーライトガイド光源 HAYASHI-REPIC LA-410UV-3 LA-410UV-5