実験装置一覧
宮内・山口研究室で所有している装置の一覧です。
物性評価 | 合成・反応 | その他 |
物性評価
![走査型プローブ顕微鏡(SPM) SHIMADZU, SPM-9700](equipment/equip_img/SPM.jpg)
走査型プローブ顕微鏡(SPM) SHIMADZU, SPM-9700
![自動比表面積・細孔分布測定装置 MICROMERITICS, TriStar II](equipment/equip_img/BET.jpg)
自動比表面積・細孔分布測定装置 MICROMERITICS, TriStar II
![卓上型電子スピン共鳴(ESR)装置 BRUKER, EMXnano](equipment/equip_img/ESR.jpg)
卓上型電子スピン共鳴(ESR)装置 BRUKER, EMXnano
![フーリエ変換赤外分光光度計 JASCO, FT/IR-6100](equipment/equip_img/FTIR4F.jpg)
フーリエ変換赤外分光光度計 JASCO, FT/IR-6100
![大気中光量子収量分光装置 RIKEN KEIKI, AC-2](equipment/equip_img/PYS.jpg)
大気中光量子収量分光装置 RIKEN KEIKI, AC-2
![高感度差動型示差熱天秤 NETZSCH, STA 2500 Reguls](equipment/equip_img/TGDTA.jpg)
高感度差動型示差熱天秤 NETZSCH, STA 2500 Reguls
![紫外可視分光光度計 JASCO, V-660](equipment/equip_img/UV-vis.jpg)
紫外可視分光光度計 JASCO, V-660
![紫外可視近赤外分光光度計 JASCO, V-670 V-770](equipment/equip_img/UV-vis-NIR-1.jpg)
紫外可視近赤外分光光度計 JASCO, V-670 V-770
![卓上蛍光X線分析(XRF)装置 Malvern Panalytical, Epsilon1](equipment/equip_img/XRF.jpg)
卓上蛍光X線分析(XRF)装置 Malvern Panalytical, Epsilon1
![小型蛍光寿命装置 Hamamatsu Photonics, Quantaurus-Tau C11367-02](equipment/equip_img/FLUO-LIFETIME.jpg)
小型蛍光寿命装置 Hamamatsu Photonics, Quantaurus-Tau C11367-02
![分光放射照度計 USHIO, USR-45](equipment/equip_img/SPEC-RADIO.jpg)
分光放射照度計 USHIO, USR-45
![接触角計 Kyowa Interface Science, DropMaster500](equipment/equip_img/CONTACT.jpg)
接触角計 Kyowa Interface Science, DropMaster500
![ゼータ電位・粒径測定システム OTSUKA ELECTRONICS, ELSZ-2PPAS](equipment/equip_img/Zpotential.jpg)
ゼータ電位・粒径測定システム OTSUKA ELECTRONICS, ELSZ-2PPAS
![分光感度測定装置 BUNKOUKEIKI, SM-250DAM](equipment/equip_img/IPCE.jpg)
分光感度測定装置 BUNKOUKEIKI, SM-250DAM
![分光蛍光光度計 Hitachi High-Tech Science, F-7000](equipment/equip_img/FLUO-SPEC.jpg)
分光蛍光光度計 Hitachi High-Tech Science, F-7000
![小型ラマン分光光度計 JASCO, PR-1w](equipment/equip_img/RAMAN.jpg)
小型ラマン分光光度計 JASCO, PR-1w
![放射温度計 JAPANSENSOR, TMHX-CSE0500-0100E001](equipment/equip_img/THERMO.jpg)
放射温度計 JAPANSENSOR, TMHX-CSE0500-0100E001
![卓上走査電子顕微鏡(SEM) JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM<br>エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM](equipment/equip_img/SEM.jpg)
卓上走査電子顕微鏡(SEM) JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM
![デスクトップX線回折(XRD)装置 Rigaku, MiniFlex600-C](equipment/equip_img/XRD.jpg)
デスクトップX線回折(XRD)装置 Rigaku, MiniFlex600-C
![3D測定レーザー顕微鏡 OLYMPUS, LEXT OLS4000](equipment/equip_img/Laser.jpg)
3D測定レーザー顕微鏡 OLYMPUS, LEXT OLS4000
合成・反応
![高速液体クロマトグラフ SHIMADZU, NexeraTM etc.](equipment/equip_img/HPLC_new.jpg)
高速液体クロマトグラフ SHIMADZU, NexeraTM etc.
![高感度ガスクロマトグラフ SHIMADZU, Tracera](equipment/equip_img/GC-BID8F.jpg)
高感度ガスクロマトグラフ SHIMADZU, Tracera
![ガスクロマトグラフ INFICON, 3000 Micro GC](equipment/equip_img/MICROGC.jpg)
ガスクロマトグラフ INFICON, 3000 Micro GC
![マグネトロンスパッタ成膜装置 VACUUM DEVIE, MSP-30T](equipment/equip_img/SPUTTER.jpg)
マグネトロンスパッタ成膜装置 VACUUM DEVIE, MSP-30T
![メタルコーティング装置 VACUUM DEVIE, MSP-mini](equipment/equip_img/miniSPUTTER.jpg)
メタルコーティング装置 VACUUM DEVIE, MSP-mini
![高温精密電気炉 SK MEDICAL ELECTRONICS, HF-1600](equipment/equip_img/SSFT.jpg)
高温精密電気炉 SK MEDICAL ELECTRONICS, HF-1600
![卓上型高温管状真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-1650](equipment/equip_img/TUBEFURNACE L.jpg)
卓上型高温管状真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-1650
![超精密小型真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-50](equipment/equip_img/TUBEFURNACE S.jpg)
超精密小型真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-50
![小型雰囲気炉 Heat tec, HWS300-40](equipment/equip_img/TUBEFURNACE-4F.jpg)
小型雰囲気炉 Heat tec, HWS300-40
![オートクレーブ](equipment/equip_img/AUTOCLAVE.jpg)
オートクレーブ
![スピンコーター MIKASA, MS-A100](equipment/equip_img/SPINCOAT.jpg)
スピンコーター MIKASA, MS-A100
![遊星回転ミル Ito Seisakusho, LA-PO.4](equipment/equip_img/MILL.jpg)
遊星回転ミル Ito Seisakusho, LA-PO.4
![電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-7000 HZ-5000](equipment/equip_img/Potentio1.jpg)
電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-7000 HZ-5000
![超音波ホモジナイザー Branson, SFX 250](equipment/equip_img/HOMO.jpg)
超音波ホモジナイザー Branson, SFX 250
![小型恒温震とう培養機 TAITECH, BR-23FH](equipment/equip_img/BIO.jpg)
小型恒温震とう培養機 TAITECH, BR-23FH
![ガスクロマトグラフ質量分析計 SHIMADZU, GCMS-QP2010 Ultra](equipment/equip_img/GC-MS.jpg)
ガスクロマトグラフ質量分析計 SHIMADZU, GCMS-QP2010 Ultra
![高性能汎用ガスクロマトグラフ SHIMADZU, GC-2014](equipment/equip_img/GC-4F.jpg)
高性能汎用ガスクロマトグラフ SHIMADZU, GC-2014
![差動排気系キット付き四重極型質量分析計 ULVAC, Qulee with YTP BGM-102](equipment/equip_img/QMASS.jpg)
差動排気系キット付き四重極型質量分析計 ULVAC, Qulee with YTP BGM-102
![精密小型調湿発生器 Micro Equipment, me-30DPRT-MFC-FH](equipment/equip_img/DEW.jpg)
精密小型調湿発生器 Micro Equipment, me-30DPRT-MFC-FH
![高性能マッフル炉 AS ONE, HPM-1N HPM-1](equipment/equip_img/MUFFLE.jpg)
高性能マッフル炉 AS ONE, HPM-1N HPM-1
![マルチ電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-Pro](equipment/equip_img/Potentio4F.jpg)
マルチ電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-Pro
その他
![グローブボックス UNICO, UL-1000A-ISMS etc.](equipment/equip_img/GLOVE1.jpg)
グローブボックス UNICO, UL-1000A-ISMS etc.
![キセノン光源 ASAHI SPECTRA, MAX-302 LAX-103](equipment/equip_img/ASAHILIGHT.jpg)
キセノン光源 ASAHI SPECTRA, MAX-302 LAX-103
![キセノンランプ光源装置 KenkoTokina, XEF-501S](equipment/equip_img/XEF1.jpg)
キセノンランプ光源装置 KenkoTokina, XEF-501S
![光触媒評価用波長可変単色光源 BUNKOUKEIKI, BIX-300](equipment/equip_img/BIX-300.jpg)
光触媒評価用波長可変単色光源 BUNKOUKEIKI, BIX-300
![バンドパスフィルタ カットフィルタ](equipment/equip_img/BANDPASS1.jpg)
バンドパスフィルタ カットフィルタ
![ソフトウェア COMSOL Multiphysics VASP](equipment/equip_img/PC.jpg)
ソフトウェア COMSOL Multiphysics VASP
![冷却トラップ装置 EYELA, UT-4000L UT-2000](equipment/equip_img/COLD1.jpg)
冷却トラップ装置 EYELA, UT-4000L UT-2000
![ソーラーシミュレータ Peccell Technologies, PEC-L11](equipment/equip_img/SOLAR.jpg)
ソーラーシミュレータ Peccell Technologies, PEC-L11
![ソーラーシミュレータ ASAHI SPECTRA, HAL-320](equipment/equip_img/SOLAR2.jpg)
ソーラーシミュレータ ASAHI SPECTRA, HAL-320
![ファイバーライトガイド光源 HAYASHI-REPIC LA-410UV-3 LA-410UV-5](equipment/equip_img/LA1.jpg)
ファイバーライトガイド光源 HAYASHI-REPIC LA-410UV-3 LA-410UV-5