実験装置一覧

宮内・山口研究室で所有している装置の一覧です。

物性評価

走査型プローブ顕微鏡(SPM) SHIMADZU, SPM-9700

自動比表面積・細孔分布測定装置 MICROMERITICS, TriStar II

エネルギー分散形X線分析(EDS)システム JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM

卓上型電子スピン共鳴(ESR)装置 BRUKER, EMXnano

フーリエ変換赤外分光光度計 JASCO, FT/IR-6100

大気中光量子収量分光装置 RIKEN KEIKI, AC-2

卓上走査電子顕微鏡(SEM) JEOL, JCM-7000 NeoScopeTM

高感度差動型示差熱天秤 NETZSCH, STA 2500 Reguls

紫外可視分光光度計 JASCO, V-660

紫外可視近赤外分光光度計 JASCO, V-670 V-770

デスクトップX線回折(XRD)装置 Rigaku, MiniFlex600-C

卓上蛍光X線分析(XRF)装置 Malvern Panalytical, Epsilon1

小型蛍光寿命装置 Hamamatsu Photonics, Quantaurus-Tau C11367-02

分光放射照度計 USHIO, USR-45

接触角計 Kyowa Interface Science, DropMaster500

ゼータ電位・粒径測定システム OTSUKA ELECTRONICS, ELSZ-2PPAS

分光感度測定装置 BUNKOUKEIKI, SM-250DAM

分光蛍光光度計 Hitachi High-Tech Science, F-7000

小型ラマン分光光度計 JASCO, PR-1w

3D測定レーザー顕微鏡 OLYMPUS, LEXT OLS4000

放射温度計 JAPANSENSOR, TMHX-CSE0500-0100E001

合成・反応

ガスクロマトグラフ質量分析計 SHIMADZU, GCMS-QP2010 Ultra

高感度ガスクロマトグラフ SHIMADZU, Tracera

高性能汎用ガスクロマトグラフ SHIMADZU, GC-2014

差動排気系キット付き四重極型質量分析計 ULVAC, Qulee with YTP BGM-102

ガスクロマトグラフ INFICON, 3000 Micro GC

高速液体クロマトグラフ SHIMADZU, NexeraTM etc.

精密小型調湿発生器 Micro Equipment, me-30DPRT-MFC-FH

マグネトロンスパッタ成膜装置 VACUUM DEVIE, MSP-30T

メタルコーティング装置 VACUUM DEVIE, MSP-mini

高性能マッフル炉 AS ONE, HPM-1N HPM-1

高温精密電気炉 SK MEDICAL ELECTRONICS, HF-1600

卓上型高温管状真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-1650

超精密小型真空雰囲気炉 FULL-TECH, FT-01VAC-50

小型雰囲気炉 Heat tec, HWS300-40

オートクレーブ

スピンコーター MIKASA, MS-A100

遊星回転ミル Ito Seisakusho, LA-PO.4

電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-7000 HZ-5000

マルチ電気化学測定システム HOKUTO DENKO, HZ-Pro

超音波ホモジナイザー Branson, SFX 250

小型恒温震とう培養機 TAITECH, BR-23FH

その他

グローブボックス UNICO, UL-1000A-ISMS etc.

冷却トラップ装置 EYELA, UT-4000L UT-2000

ソーラーシミュレータ Peccell Technologies, PEC-L11

ソーラーシミュレータ ASAHI SPECTRA, HAL-320

キセノン光源 ASAHI SPECTRA, MAX-302 LAX-103

キセノンランプ光源装置 KenkoTokina, XEF-501S

ファイバーライトガイド光源 HAYASHI-REPIC LA-410UV-3 LA-410UV-5

光触媒評価用波長可変単色光源 BUNKOUKEIKI, BIX-300

バンドパスフィルタ　カットフィルタ

ソフトウェア COMSOL Multiphysics VASP

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